產業專屬解決方案

自動識別以進行晶圓追蹤

在高度競爭下,全球的半導體產業需要能夠更嚴格控管日益複雜的製程,才能物盡其用、發揮最大產能,以及達到零錯誤率。而在整個後端處理中,必須能夠追蹤晶圓,對於獲利率更是重要。 過去 20 多年以來,康耐視晶圓 ID 系統已樹立了高讀率和穩定可靠的標準,In-Sight 1740 系列也不例外。In-Sight 1740 系列晶圓讀碼器麻雀雖小、五臟俱全,能發揮極致效能!一個完全獨立運作的小巧系統,提供了達成高讀率的一切功能,且依然穩定可靠。

先進的照明系統

具備 12 種模式之內建軟體控制、亮場和暗場照明功能,幾乎任何的 ID 打標,In-Sight 1740 系列讀碼器均可拍攝其影像。超軟打標、超薄塗層藍寶石基板 - In-Sight 1740 系列照明系統都能從容應付這些挑戰,且不僅止於此。加上,因應業者開發出新型的晶圓製程和塗層,In-Sight 1740 系列讀碼器以專業照明裝置搭配輔助燈具連接埠,只需經過延伸即可解決成像上的新挑戰。  

亮場照明

 Dark-field

暗場照明

業經證實的讀取演算法

即使最有效的照明,都需要先進的 ID 演算法才能成功掃讀 OCR、T7 資料矩陣,以及難以拍攝晶圓影像上的條碼。In-Sight 1740 系列的核心就是康耐視讀取演算法,這是康耐視根據安裝其超過 31,000 個晶圓 ID 系統的獨特經驗所開發,對於邊緣球狀物造成外觀不佳的 ID 打標、CMP、刻劃在壓鑄的圖案及其他情況,這些演算法已證實是業界中最堅固、最可靠的演算法。


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SEMI T7

影像增強濾鏡

晶圓處理效應可能會影響 ID 打標品質,最嚴重的程度時,即使是最先進的照明系統和軟體演算法都無法讀取。In-Sight 1740 系列讀碼器可使用自動影像增強濾鏡,克服這些外觀不佳情況。在最嚴苛的情況下,濾鏡能將讀取失敗轉成成功讀取,同時增加可靠性,並消除人工介入作業之需要。

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無 OCR 濾鏡

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有 OCR 濾鏡

更快的掃讀效能

In-Sight 1740 系列的掃讀速度比前一代熱銷 In-Sight 1720 系列機種快了 40%。如虎添翼的功能也可以用來執行更需要處理器資源的影像分析,並提供卓越可靠的結果,且不會增加整體掃讀次數。

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