SIM 卡連接器檢測

在不易檢查的表面上，找出 SIM 卡連接器缺陷

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SIM 卡座是有六或八個接點的淺托盤，可讓用戶識別模組 (SIM) 卡輕鬆插入或取出，同時在使用期間穩定地固定小卡。其可在許多不同的行動應用中使用。

出現在 SIM 卡座表面的缺陷多樣繁多，包括刮痕、凹痕及變形。在通常為黑色或其他暗色的表面上，可能很難發現和識別這些缺陷。

傳統機器視覺難以發現這些缺陷，而且經常必須接連設置多部自動光學檢測 (AOI) 機器，才能獲得有限的探測能力。即使採用多部 AOI 機器，能夠透過程式設計方式探測的缺陷數量，依然有限。

Cognex Deep Learning 的缺細探測工具最適合用來探測 SIM 卡連接器上的異常。缺陷探測工具透過一組無缺陷 SIM 卡的圖像，以及一組有缺陷 SIM 卡的圖像進行訓練。訓練完成後，隨即能準確地探測連接器中樣態繁多的缺陷，以及將不會影響功能，單純是外觀痕跡的缺陷視為合格。

傳統機器視覺只能探測出現在固定位置的有限缺陷類型，但 Cognex Deep Learning 缺陷探測工具可探測多樣廣泛的不同缺陷，無論缺陷出現在受檢測品項的何處，都不成問題。缺陷探測工具滿載眾多功能，因此能減少所需的視覺檢測站數量，進而降低成本，同時還可達到優異的缺陷探測準確度。