Identificação Automática para Rastreabilidade de Wafer

A indústria global e intensamente competitiva de semicondutores requer cada vez mais um controle rigoroso de processos progressivamente complexos para maximizar a utilização de ferramentas e o rendimento da produção; a margem de erro é zero. A necessidade de rastrear wafers por meio de processamento back-end nunca foi tão vital para a lucratividade.

Os leitores de wafer In-Sight® 1740 ajudam a enfrentar esse desafio, identificando wafers automaticamente com extrema confiabilidade para minimizar a necessidade de intervenção humana e evitar tempos de inatividade das ferramentas. Seja instalado em equipamentos novos ou adaptados a ferramentas existentes, os leitores In-Sight 1740 podem transformar a rastreabilidade total de wafers em uma realidade.

Por mais de duas décadas, os sistemas de identificação de wafer da Cognex estabeleceram padrões para altas taxas de leitura e confiabilidade, e a linha In-Sight 1740 não é exceção. Os leitores de wafer In-Sight 1740 podem ser pequenos, mas oferecem grande desempenho. Tudo o que você precisa para obter altas taxas de leitura sem comprometer a confiabilidade é fornecido em um único sistema compacto e independente.

Sistema de iluminação avançado

Com 12 modos de iluminação de campo direta e indireta, controladas por softwares e integradas, os leitores In-Sight 1740 podem ler praticamente qualquer marcação de identificação. Marcações muito sutis, substratos de safira com revestimento ultrafino – o sistema de iluminação do In-Sight 1740 está à altura desses desafios e muitos outros. Além disso, à medida que novos revestimentos e processos de wafer são desenvolvidos, os leitores In-Sight 1740 podem ser estendidos para atender a novos desafios de leitura com iluminação especializada ativada pela porta auxiliar de iluminação.  

Campo claro

Iluminação de campo claro

 Campo escuro

Iluminação de campo escuro

Algoritmos de leitura comprovados

Mesmo a iluminação mais eficiente requer algoritmos de identificação avançados para ler com êxito OCR, T7 Data Matrix e códigos de barra de difícil leitura em wafers. No centro da linha In-Sight 1740 estão os algoritmos de leitura Cognex, desenvolvidos com base na experiência obtida somente após a instalação de mais de 31.000 sistemas de identificação de wafer. Está comprovado que esses algoritmos são os mais robustos e confiáveis no mercado de marcações de identificação que foram degradadas por frisos na borda, CMP, riscos no molde e outras condições.


Detalhe T-7

SEMI T7

Filtros de melhoria de imagem

Os efeitos do processamento de wafer podem afetar a qualidade das marcações de identificação, de modo que possam resistir à leitura até mesmo pelo sistema de iluminação e algoritmo de software mais avançados. Os leitores In-Sight 1740 podem superar essas degradações visuais usando filtros de melhoria automática de imagem. Na maioria dos casos severos, os filtros podem transformar uma falha de leitura em um sucesso, ao mesmo tempo em que aumentam a confiabilidade e eliminam a necessidade de intervenção humana.

 OCR_sem_filtro_cortado_difícil

Sem filtro OCR

 OCR_com_filro_cortado_difícil

Com filtro OCR

Desempenho de leitura mais rápido

O In-Sight 1740 lê 40% mais rápido do que seu predecessor, o campeão de vendas In-Sight 1720. A potência extra também pode ser usada para executar mais análises intensivas de imagem no processador, que fornecem resultados incrivelmente confiáveis, sem aumentar o tempo geral de leitura.

ACESSE O SUPORTE E TREINAMENTO DE PRODUTOS E MAIS

Junte-se ao MyCognex