Produtos Eletrônicos

Alinhamento de Wafer e Molde

A tecnologia PatMax proporciona uma localização de padrão robusta, precisa e rápida para a inspeção de wafer, sondagem, montagem, corte em cubo e equipamentos de teste

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Tecnologia de localização de características e peças precisa e repetível

Seja durante o processo de fotolitografia, sonda e teste do wafer ou montagem e corte em cubo do wafer, um alinhamento com visão de má qualidade pode causar milhares de wafers danificados e necessitando de assistência durante o tempo de vida útil de uma máquina. Sistemas de visão de fraco desempenho fazem com que as empresas de equipamentos de semicondutores percam cota de mercado e aumentam significativamente seus custos de suporte.

A tecnologia PatMax proporciona uma localização de padrão de molde e wafer robusta, precisa e rápida para a inspeção, sondagem, montagem, corte em cubo e teste de wafers para ajudar a evitar esses problemas. O PatMax utiliza a tecnologia de descoberta de padrões geométricos para localizar e alinhar padrões variáveis de wafers e moldes. Ela alinha wafers e moldes com alta precisão e alta repetibilidade, garantindo um desempenho confiável do equipamento através do processo de fabricação de semicondutores. Com a Cognex, os OEMs podem otimizar o desempenho geral de seus equipamentos, melhorando a qualidade e a rentabilidade.

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