Produtos Eletrônicos

Inspeção de Semicondutores

A visão industrial inspeciona a existência de defeitos em wafers e cubos

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Capacita os usuários a configurarem e implementarem rapidamente até mesmo as aplicações de visão 2D e 3D mais desafiadoras.

Localização de Peça com PatMax

Tecnologia de localização de características e peças precisa e repetível

A visão industrial é utilizada por todo o processo de fabricação de semicondutores, desde a monitorização do diâmetro dos lingotes, quando estão sendo formados, até a inspeção de uma estrutura guia de molde, antes da ligação do fio. Apesar de a inspeção habilitada pela visão industrial ser crítica durante todos os estágios, as inspeções de back-end específicas em nível do molde e do pacote ajudam os OEMs a manterem os rigorosos padrões de qualidade.

A tecnologia PatMax localiza e inspeciona defeitos de superfície como marcas de sonda e marcas de CI; inspeciona pastilhas de ligação, fios e BGAs; localiza fissuras e lascas que afetam a qualidade dos moldes; e ajuda a proporcionar um feedback em tempo real para as máquinas de corte em cubo. A PatMax proporciona dados sobre os defeitos detalhados para a inspeção, independentemente da orientação, tamanho e variação de tons de um molde. O uso da visão industrial para essas inspeções ajuda os OEMs a limitarem os defeitos dos semicondutores e aumenta dramaticamente o rendimento do equipamento.

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