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LEDダイがウェハー上に作成された後、亀裂、破片、および暗欠陥などの表面の欠陥がないかどうかを検査する必要があります。これらの欠陥はLEDの品質と性能に悪影響を与える可能性があるからです。これらのタイプの欠陥は様々な場所で発生する可能性があるため、ルールベースのマシンビジョンを使用して高速検査を行うことはできません。また、LEDダイの品質には影響を与えない正常な逸脱が発生することがあるため、システムではこれらの小さな欠陥を無視することが重要です。毎日処理されるLEDダイのサイズと量を考えると、人による検査は効率的でも実用的でもありません。

コグネックスのAIベースのビジョンシステムおよびソフトウェアは、メーカーが実際のLEDダイの欠陥を特定して分類するのに役立ちます。この高度な画像処理ソリューションには、良い/悪い(NG)結果の両方を示す一連の画像が登録されています。そのため、ソフトウェアは、重大な欠陥のみにフラグを立てます。位置検索ツールは、対象領域(ROI)を特定します。ROIが定義されたら、欠陥検出ツールで対象領域内の欠陥を特定します。次に分類ツールで、欠陥を分類します。この情報を使用して、生産マネージャは、完成LEDの歩留まりを高めるのみでなく、分類情報を使用して生産課題に対応して解決したり、収益性を高めたりすることができます。

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