エレクトロニクス

SIM カードコネクタ検査

困難な面で SIMカードコネクタの欠陥を検出

SIM card connector cosmetic inspection fail example

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SIM カードホルダーは、6つまたは8つの接続部のある浅いトレイです。これにより、使用中にカードを安全に保持しながら、加入者識別モジュール (SIM) カードを簡単に挿入または取り外すことができます。これらは、さまざまなモバイルアプリケーションで使用されています。

SIM カードホルダーの表面には、傷、へこみ、変形など、さまざまな欠陥が含まれることがあります。これらは、多くの場合、表面が黒あるいは暗い色であるため探して識別することが困難な場合があります。

従来のマシンビジョンではこれらの欠陥を見つけることが困難で、多くの場合、限られた検出機能を実現するために複数の自動光学検査 (AOI) マシンを順番に設置することが必要です。複数の AOI マシンを使用しても、プログラムできる欠陥の数は限られています。

Cognex Deep Learning の欠陥検出は、SIM カード接続の異常を検出するのに最適です。欠陥検出ツールは、欠陥のない SIM カードの画像のみでなく、欠陥のある SIM カードの画像も登録します。登録が終わると、機能に影響を与えない純粋な外観のマークを通過させ、幅広いコネクタの欠陥のみを正確に検出します。

従来のマシンビジョンでは、固定位置で発生する限られた数の欠陥しか検出できませんが、ディープラーニングの欠陥検出ツールは、検査対象の項目のどこにあるかにかかわらず、さまざまな種類の欠陥を検出します。欠陥検出ツールの機能により、正確な欠陥検出を高レベルに保ちながら、コストを削減するために必要なビジョン検査ステーションの数を減らすことが可能です。

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