エレクトロニクス

COI による多面検査と分類

複数の表面に欠陥がないか検査し、分類する

Multi-surface inspection and classification with COI

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現在、エレクトロニクス業界のほとんどの製造プロセスは自動化されていますが、いくつかの欠陥はあいまいで、特定の角度でしか確認できない場合もあります。生産ラインの変更が頻繁に行われると、新しいビジョンアプリケーションの開発は非常に困難になります。つまり、モバイルデバイスのような組み立てられた家電製品の欠陥を検査するには、依然として手動検査が必要です。さらに、人間の検査結果は検査官によって異なり、家電業界で必要とされる外観の欠陥検査の量に合わせて拡大縮小するのは容易ではありません。

アジアのみで利用可能なコグネックスの外観光学検査システム (COI) は、ビジョン誘導ロボットシステムを使用して、電子機器表面の複数の詳細な画像をキャプチャするように設計されています。ロボットは、1台の高解像度カメラに部品を提示し、異なる角度で理想的な照明条台の件下で表面画像をキャプチャします。ディープラーニングソフトウェアは、これらの画像を分析して、部品が1つの角度からしか検査されなかった場合に見逃された可能性のある欠陥を特定します。その後、欠陥は分類され、製造プロセスに関するビジネス インテリジェンス データを提供します。これにより、部品が製造工程の次の段階に進む前に、欠陥を正確かつ確実に特定するための作業が憶測ではなくなります。

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