Identificazione automatica per la tracciabilità dei wafer

L'industria globale dei semiconduttori, estremamente competitiva, richiede un controllo sempre più rigoroso di processi sempre più complessi, al fine di massimizzare l'utilizzo degli strumenti e la resa produttiva; il margine di errore è nullo. Mai come oggi la tracciabilità integrale della lavorazione dei wafer risulta vitale per la redditività delle aziende.

La serie di lettori di wafer In-Sight® 1740 garantisce un livello di affidabilità dell'identificazione automatica così elevato da richiedere un intervento minimo dell'operatore ed evitare costosi tempi di inattività. Installati su macchinari nuovi o inseriti su linee esistenti, i lettori della serie In-Sight 1740 rendono la tracciabilità integrale dei wafer una realtà.

Da oltre due decenni i sistemi di identificazione dei wafer di Cognex definiscono gli standard in termini di prestazioni di lettura e affidabilità e la serie In-Sight 1740 non fa eccezione. I lettori di wafer della serie In-Sight 1740 sono piccoli, ma con prestazioni assolutamente elevate. Tutto ciò che serve per raggiungere velocità di lettura elevate senza compromettere l'affidabilità è fornito in un unico sistema compatto e autonomo.

Sistema di illuminazione avanzato

Grazie a 12 modalità d’illuminazione in campo chiaro e scuro precaricate e controllate dal software, i lettori della serie In-Sight 1740 sono in grado di acquisire praticamente qualsiasi contrassegno identificativo. Contrassegni leggermente marcati, sotto strati sottilissimi rivestiti in zaffiro: il sistema di illuminazione di In-Sight 1740 non teme alcun confronto. Inoltre, con lo sviluppo di nuovi processi e rivestimenti per wafer, i lettori della serie In-Sight 1740 possono essere ampliati per affrontare nuove sfide di imaging con un'illuminazione specializzata alimentata dalla porta per luce ausiliaria.

Campo chiaro

Illuminazione in campo chiaro

 Campo scuro

Illuminazione in campo scuro

Algoritmi di lettura collaudati

Anche l'illuminazione più efficace necessita di algoritmi di identificazione avanzati per leggere con successo i codici OCR, T7 Data Matrix e i codici a barre su wafer difficili da acquisire. Il cuore pulsante della serie In-Sight 1740 è costituito dagli algoritmi di lettura di Cognex, sviluppati sulla base delle esperienze maturate con l'installazione di oltre 31.000 sistemi di identificazione di wafer. Questi algoritmi si sono dimostrati i più robusti e affidabili al mondo sulle marcature ID che sono state degradate da residui sui bordi, CMP, modelli incisi su stampi e altre situazioni.


T7-close-up

SEMI T7

Filtri per il miglioramento delle immagini

Sebbene la lavorazione dei wafer possa avere effetti sulla qualità dei contrassegni tali da renderli di difficile acquisizione anche utilizzando i sistemi di illuminazione e gli algoritmi più avanzati, i lettori della serie In-Sight 1740 sono in grado di gestire anche i degradi visivi più marcati grazie a filtri per il miglioramento automatico dell'immagine. I filtri consentono di rendere leggibili codici la cui acquisizione fallirebbe in condizioni normali, aumentando quindi l'affidabilità ed eliminando la necessità di intervento dell'operatore.

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Senza filtro OCR

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Con filtro OCR

Incremento delle prestazioni di lettura

La serie In-Sight 1740 legge più velocemente del 40% rispetto al suo modello precedente, la vendutissima serie In-Sight 1720. L'incremento della capacità di elaborazione può essere dedicato ad ulteriori analisi delle immagini offrendo così risultati incredibilmente affidabili senza incrementare i tempi di acquisizione.

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