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Soluzioni per settori specifici

Identificazione automatica per la tracciabilità dei wafer

La concorrenza serrata che caratterizza il settore dei semiconduttori a livello internazionale, al fine di massimizzare l'utilizzo degli strumenti e la produttività, richiede un controllo su processi di lavorazione sempre più complessi tale da non lasciare il minimo margine di errore. Mai come oggi la tracciabilità integrale della lavorazione dei wafer risulta vitale per la redditività delle aziende. La serie di lettori di wafer In-Sight® 1740 si muove proprio in questa direzione, grazie ad un livello di affidabilità dell'identificazione automatica dei wafer così elevato da richiedere un intervento minimo dell'operatore e da evitare tempi di inattività durante l'elaborazione. Installati su macchinari nuovi o aggiunti a linee esistenti, i lettori della serie In-Sight 1740 rendono la tracciabilità integrale dei wafer una realtà. Da oltre due decenni i sistemi di identificazione dei wafer di Cognex definiscono gli standard in termini di prestazioni di lettura e affidabilità. La serie In-Sight 1740 non ne fa eccezione. Lettori di wafer In-Sight 1740: dimensioni contenute, prestazioni estreme. Tale sistema compatto integra al proprio interno i componenti necessari per ottenere elevate velocità di lettura senza alcun compromesso in termini di affidabilità.

Sistema di illuminazione avanzato

Grazie a 12 modalità precaricate, al controllo software e all’illuminazione in campo chiaro e scuro, i lettori della serie In-Sight 1740 sono in grado di acquisire praticamente qualsiasi contrassegno identificativo. Contrassegni leggermente marcati, sotto strati sottilissimi rivestiti in zaffiro: il sistema di illuminazione di In-Sight 1740 non teme alcun confronto. Inoltre, grazie a uno specifico sistema di illuminazione alimentato tramite una porta di espansione aggiuntiva, i lettori della serie In-Sight 1740 sono in grado di superare nuove sfide di acquisizione consentendo la lettura dei contrassegni su wafer ricoperti con gli ultimi ritrovati in materia di rivestimenti.

Bright field

Illuminazione in campo chiaro

 Dark-field

 Illuminazione in campo scuro

Algoritmi di lettura collaudati

Al fine di acquisire correttamente i codici OCR, T7 Data Matrix e i codici a barre presenti sui wafer più complessi, sono necessari algoritmi avanzati anche utilizzando l'illuminazione più efficace in assoluto. Il cuore pulsante della serie In-Sight 1740 è costituito dagli algoritmi di lettura di Cognex, sviluppati sulla base delle esperienze maturate con l'installazione di oltre 31.000 sistemi di identificazione di wafer. Tali algoritmi sono i più affidabili del mercato in assoluto e la loro efficienza è stata verificata su contrassegni identificativi degradati da residui sui bordi, CMP, modelli incisi nello stampo e altri metodi.


T7-close-up

SEMI T7

Filtri per il miglioramento delle immagini

La lavorazione dei wafer può avere effetti sulla qualità dei contrassegni tali da renderli di difficile acquisizione anche utilizzando i sistemi di illuminazione e gli algoritmi più avanzati. Ciò nonostante, i lettori della serie In-Sight 1740 sono in grado di gestire anche i degradi visivi più marcati con leggerezza, grazie ai filtri per il miglioramento automatico dell'immagine. I filtri consentono di rendere leggibili dei codici la cui acquisizione fallirebbe in condizioni normali, aumentando quindi l'affidabilità ed eliminando la necessità di intervento dell'operatore.

 Difficult_OCR_no_filter_cropped

Senza filtro OCR

 Difficult_OCR_filter_cropped

Con filtro OCR

Incremento delle prestazioni di lettura

La serie di lettori In-Sight 1740 è più rapida del 40% della precedente e già performante serie In-Sight 1720. L'incremento della capacità di elaborazione può essere dedicato ad ulteriori analisi delle immagini offrendo così risultati incredibilmente affidabili senza incrementare i tempi di acquisizione.

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