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Semiconduttori

Problematiche legate alla qualità dei wafer

La produzione di wafer più sottili, costosi e a trama più fine pone crescenti problemi di affidabilità e rintracciabilità dei processi produttivi. Nonostante la modifica dei processi produttivi influisca negativamente sull'aspetto dei wafer, Cognex conserva la leadership nell'allineamento di precisione e nell'identificazione di questi componenti.

Pre-allineamento di wafer

Il software Cognex pre-allinea i wafer con grande precisione, eliminando così la necessità di dover ricorrere a questo tipo di allineamento a livello dell'apparecchiatura di lavorazione.

Allineamento di precisione di wafer

 La funzione di individuazione delle caratteristiche PatMax® garantisce la massima precisione anche nelle condizioni più difficili.

Identificazione di wafer

I lettori di wafer Serie In-Sight 1740,caratterizzati da dimensioni ridotte e illuminazione integrata, consentono di identificare in modo affidabile tutti i codici SEMI.

Ispezione di wafer

PatInspect TM  offre allo stesso tempo allineamento e rilevazione di difetti.

 

Ispezione di piastre saldate

La funzione di apprendimento di modelli sintetici consente di individuare e ispezionare piastre saldate praticamente di qualsiasi forma.

Ispezione di aghi-sonda

Lo speciale software ispeziona gli aghi-sonda per rilevare tracce di usura e garantirne il corretto allineamento.

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