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Elettronica

Ispezione di semiconduttori

La visione industriale verifica l'assenza di difetti su wafer e stampi

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Software di visione industriale VisionPro

Consente agli utenti di configurare e utilizzare anche le applicazioni di visione più impegnative 2D e 3D.

Localizzazione dei componenti con PatMax

Tecnologia di localizzazione dei pezzi e delle caratteristiche precisa e ripetibile

La visione industriale è usata durante tutto il processo di produzione dei semiconduttori, dal monitoraggio del diametro dei lingotti durante la fase di formazione all'ispezione del rivestimento in piombo degli stampi prima della saldatura a filo. Sebbene l'ispezione con visione industriale sia fondamentale durante tutte le fasi, specifiche ispezioni back-end a livello di stampo e imballaggio aiutano gli OEM ad attenersi ai rigorosi standard qualitativi.

La tecnologia PatMax localizza e ispeziona difetti superficiali, come marcature di prova e di IC. Ispeziona piastre saldate, fili e BGA; localizza fenditure e chip che comportano una bassa qualità dello stampo. Infine, fornisce un riscontro in tempo reale alle macchine di taglio. PatMax fornisce dati dettagliati sui difetti per l'ispezione, indipendentemente dall'orientamento di stampo e imballaggio, dalla dimensione e dalle variazioni di illuminazione. L'utilizzo della visione industriale per queste ispezioni aiuta gli OEM a limitare i difetti dei semiconduttori, migliorando notevolmente la resa.

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