Ispezione di connettori di schede SIM
Rilevare i difetti del connettore della scheda SIM su superfici difficili
Prodotti Correlati
Software di visione basato sul deep learning con tutta la potenza di In-Sight ViDi
Ambiente di programmazione grafica per l'analisi di immagini industriali basata sul deep learning
Un portascheda SIM è un alloggiamento poco profondo con sei o otto contatti che permette di inserire o rimuovere facilmente una scheda SIM (Subscriber Identity Module) mentre la tiene saldamente in posizione durante l'uso. Sono utilizzati in una serie di applicazioni mobili.
La superficie di un supporto per scheda SIM può avere una vasta gamma di difetti tra cui graffi, ammaccature e deformazioni. Questi possono essere difficili da rilevare e individuare sulla superficie, che è spesso nera o di un altro colore scuro.
Rilevare questi difetti è difficile per la visione artificiale tradizionale e spesso richiede più di una macchina di ispezione ottica automatizzata (AOI) in sequenza per raggiungere anche una capacità di rilevamento limitata. Anche con più macchine AOI, può essere programmato solo un numero limitato di difetti.
Il rilevamento di difetti del Deep Learning di Cognex è ideale per individuare le anomalie sulle connessioni delle schede SIM. Lo strumento di rilevamento di difetti si allena su un insieme di immagini di schede SIM prive di difetti e su un insieme di immagini di schede SIM difettose. Una volta addestrato, rileva accuratamente una vasta gamma di difetti nel connettore mentre supera segni puramente estetici che non influenzano il funzionamento.
La visione artificiale tradizionale può rilevare solo un numero limitato di tipi di difetti che si verificano in una posizione fissa, mentre lo strumento di rilevamento di difetti con Deep Learning rileva una vasta gamma di diversi difetti, indipendentemente da dove si trovano sull'articolo ispezionato. Grazie alle capacità degli strumenti di rilevamento di difetti, è possibile ridurre il numero di stazioni di ispezione visiva necessarie, il che abbassa i costi pur raggiungendo alti livelli di preciso rilevamento di difetti.
