Solutions sectorielles

Identification automatique pour la traçabilité des wafers

Le secteur des semi-conducteurs extrêmement concurrentiel exige un contrôle encore plus rigoureux des processus de plus en plus complexes afin de maximiser l'utilisation des outils et le rendement de production ; aucune marge d'erreur n'est permise. La nécessité de suivre les wafers tout au long du traitement en aval n'a jamais été plus vitale pour la rentabilité. Les lecteurs de wafers In-Sight® série 1740 permettent de relever ce défi en identifiant automatiquement les wafers avec une extrême fiabilité afin de minimiser le besoin d'intervention humaine et d'éviter le temps d'inactivité des outils. Qu'ils soient installés sur un nouvel équipement ou après coup sur des outils existants, les lecteurs In-Sight série 1740 rendent possible une traçabilité totale des wafers. Cela fait plus de vingt ans que les systèmes d'identification de wafers de Cognex sont une référence en matière de taux de lecture et de fiabilité élevés ; l'In-Sight série 1740 ne fait pas exception. Compacts, les lecteurs de wafers In-Sight série 1740 présentent néanmoins des performances élevées. Tout ce qui est nécessaire pour atteindre des taux de lecture élevés sans compromettre la fiabilité est fourni dans un système compact et autonome.

Système d'éclairage avancé

Avec 12 modes d'éclairage, direct, rasant, intégré et contrôlé par logiciel, les lecteurs In-Sight série 1740 peuvent identifier pratiquement n'importe quel marquage. Les marquages peu contrastés, les revêtements ultra fins, les substrats de saphir : ce ne sont que quelques exemples des défis que le système In-Sight série 1740 est capable de relever. En outre, alors que de nouveaux processus et revêtements de wafers sont développés, les lecteurs In-Sight série 1740 peuvent être étendus pour relever de nouveaux défis d'imagerie avec des éclairages spécifiques alimentés par le port d'éclairage auxiliaire.

Bright field

Éclairage direct

 Dark-field

Éclairage rasant

Algorithmes de lecture éprouvés

Même l'éclairage le plus efficace nécessite des algorithmes avancés pour lire avec succès les codes-barres, les codes OCR et Data Matrix T7 sur les wafers difficiles à identifier par l'image. L'In-Sight série 1740 est basée sont les algorithmes de lecture de Cognex qui sont le résultat de nombreuses années d'expérience suite à l'installation de 31 000 systèmes d'identification de wafers. Ces algorithmes se sont révélés les plus solides et les plus fiables au monde en matière de marquages d'identification ayant été dégradés par des renflements de résine sur les bords, le polissage mécano-chimique (CMP), les tracés pour les puces, etc.


T7-close-up

SEMI T7

Filtres d'amélioration de l'image

Les effets du traitement des wafers peuvent affecter la qualité du marquage d'identification à un tel point qu'ils résistent à la lecture par les algorithmes logiciels et les systèmes d'éclairage les plus avancés. Les lecteurs In-Sight série 1740 peuvent gérer ces dégradations visuelles grâce aux filtres d'amélioration automatique de l'image. Dans les cas les plus extrêmes, les filtres peuvent permettre la lecture réussie de codes autrement impossibles à lire sans intervention humaine et avec une fiabilité plus élevée.

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Sans filtre OCR

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Avec filtre OCR

Performances de lecture plus rapides

L'In-Sight série 1740 lit 40 % plus vite que son prédécesseur, la meilleure vente, l'In-Sight série 1720. La puissance supplémentaire peut également être utilisée pour effectuer une analyse des images plus gourmande en temps processeur fournissant des résultats exceptionnellement fiables sans accroître les temps de lecture globaux.

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