Inspection des semi-conducteurs
La vision industrielle recherche les défauts sur les wafers et les puces
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La vision industrielle est utilisée tout au long du processus de fabrication des semi-conducteurs, du contrôle du diamètre des lingots lors de leur formation à l’inspection des grilles de connexion des puces avant la soudure des fils. Bien que l’inspection de vision industrielle soit essentielle lors de toutes ces étapes, une inspection finale spécifique au niveau des puces et des modules permet aux fabricants OEM de se conformer aux normes de qualité rigoureuses.
La technologie PatMax recherche les défauts de surface tels que les marques de sonde et de circuit intégré, inspecte les plots de fixation, les fils et les composants montés en surface, localise les fissures et les éclats qui affectent la qualité des puces, et fournit un retour en temps réel aux machines de découpe. PatMax fournit des données détaillées sur les défauts afin d'obtenir une inspection précise, quelle que soit les variations d'orientation, de taille et de nuance des puces ou des modules. L'utilisation de la vision industrielle pour ces inspections permet aux fabricants OEM de réduire les défauts des semi-conducteurs et d'améliorer considérablement le rendement des équipements.
