NATICK, MA, États-Unis août 03, 2011
Le lecteur de wafers de Cognex définit une nouvelle norme en multipliant par deux la puissance de tr
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Cognex Corporation (NASDAQ : CGNX), leader mondial des systèmes de vision industrielle, a lancé sa nouvelle génération de lecteurs d'identification de wafers avec le logiciel qui l'accompagne, l'In-Sight® série 1740 et le logiciel In-Sight Explorer Wafer ID version 4.5.0. La nouvelle gamme de produits intègre des fonctionnalités conçues pour améliorer à la fois les taux de lecture et la fiabilité tout en facilitant la configuration et la maintenance du lecteur sur une gamme plus étendue d'outils de manipulation et de traitement de wafers. L'association de ces fonctionnalités aide à garantir un temps de service maximum de l'outil, ininterrompu par le besoin d'intervention humaine à l'étape d'identification du wafer.
Grâce à une puissance de traitement plus élevée, les lecteurs de wafers In-Sight série 1740 réduisent le temps de lecture type de 40 %. Les vitesses de traitement plus rapides aident également les lecteurs In-Sight série 1740 à tirer profit des nouvelles fonctionnalités automatiques d'auto-optimisation. Ces nouvelles fonctionnalités peuvent considérablement accroître les taux de lecture et la fiabilité même sur les marques d'identification les plus difficiles à lire tout en assurant un fonctionnement sans heurts et sans surveillance.
Les lecteurs In-Sight série 1740 sont également dotés d'un système d'éclairage supérieur à celui de ses prédécesseurs. Les lecteurs In-Sight série 1720 de Cognex sont reconnus pour leur système d'éclairage interne qui produit des images avec éclairage direct d'une grande lisibilité. L'In-Sight série 1740 améliore encore davantage ce système d'éclairage le meilleur de sa catégorie grâce à sa rangée de LED externes intégrées pour produire des images sous éclairage rasant d'une contraste exceptionnellement élevé des marques d'identification sur de nombreux types de wafers. En outre, alors que de nouveaux types de revêtements de wafers sont développés, les lecteurs In-Sight série 1740 peuvent être étendus pour relever de nouveaux défis d'imagerie avec des éclairages spécifiques alimentés par le port d'expansion de lumière extérieure.
« L'In-Sight série 1740 enrichit une gamme de produits déjà considérée comme la norme dans le secteur des semi-conducteurs pour les lecteurs de wafers », a déclaré Bhaskar Banerjee, Directeur de la division Systèmes de vision de Cognex. « Les nouveaux systèmes proposent plusieurs mises à niveau comme l'amélioration automatique de l'image, un outil logiciel qui gère les dégradations visuelles des identifiants de wafers avec la fonctionnalité de filtrage d'amélioration de l'image automatique—une fonctionnalité exclusive de Cognex. »
Les nouveaux lecteurs de wafer In-Sight série 1740 sont 100 % rétrocompatibles. Avec exactement les mêmes dimensions, la même disposition des repères de montage et le même ensemble de commandes à distance, les lecteurs In-Sight série 1740 peuvent être utilisés partout où les lecteurs In-Sight série 1720 sont utilisés aujourd'hui.
Le nouveau logiciel In-Sight Explorer Wafer ID, version 4.5.0 comprend plusieurs nouveaux outils :
- Filtres d'amélioration automatique de l'image pour gérer les dégradations visuelles. Dans les cas les plus extrêmes, les filtres d'amélioration peuvent permettre la lecture réussie de codes autrement impossibles à lire sans intervention humaine.
- Support étendu pour les wafers 300 mm. Selon la norme SEMI M1.15, chaque wafer 300 mm doit comporter un code Data Matrix T7 et un marquage OCR. Le nouveau logiciel 4.5.0 de Cognex améliore la performance de lecture des marquages SEMI M1.15 en tentant d'abord de lire le code T7 à l'aide de la technologie IDMax® brevetée de Cognex. Le marquage OCR sert de sécurité si le code T7 a été trop détérioré pendant le processus. Une fiabilité maximale est ainsi assurée et le lecteur est plus facile à entretenir car moins de configurations sont requises.
