Electrónica

Wafer y alineación de troqueles

Alinear con precisión wafer y troqueles para garantizar un rendimiento confiable

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Localización de piezas con PatMax

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Muchos pasos del proceso de fabricación de semiconductores requieren una alineación muy precisa, como el proceso de fotolitografía, sondeo y prueba de wafer, y montaje y corte de wafer. Para satisfacer la demanda de la industria, los fabricantes de semiconductores utilizan sistemas de producción automatizados de alta velocidad que requieren una intervención mínima. Los sistemas de alineación por visión de bajo rendimiento se detienen con mayor frecuencia para la intervención manual y el mantenimiento, lo que interrumpe el proceso de producción y aumenta los costos de apoyo. Además de las ineficiencias de producción, una alineación deficiente puede disminuir el rendimiento de los wafer y la funcionalidad eléctrica de los circuitos de los troqueles.

La tecnología PatMax ofrece una localización sólida, precisa y rápida de patrones de wafer y troqueles para la inspección, exploración, montaje, corte y prueba de wafer en equipos para ayudar a evitar estos problemas. PatMax utiliza algoritmos geométricos patentados de localización de patrones geométricos para localizar y alinear los diversos patrones de wafer y troqueles. Alinear wafer y troqueles con gran precisión y repetibilidad, garantizando el rendimiento confiable de los equipos durante todo el proceso de fabricación de semiconductores. Con Cognex, los OEM pueden optimizar el rendimiento general de sus equipos, mejorando la calidad y el rendimiento.

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