Electrónicos

Alineación de wafer y bloques

La tecnología PatMax ofrece una localización sólida, precisa y rápida de patrones para inspección, exploración, montaje, corte y prueba de wafer para equipos

Related Products

VisionPro

Permite a los usuarios configurar e implementar rápidamente hasta las aplicaciones de visión 2D y 3D más desafiantes.

Localización de piezas con PatMax

Tecnología precisa y repetible de localización de piezas y características

Ya sea durante el proceso fotolitográfico, la exploración y prueba de wafer, o el montaje y corte de wafer, la mala alineación de visión puede provocar miles de asistencias y wafer dañados durante la vida útil de la máquina. Los sistemas de visión con un rendimiento deficiente cuestan a las compañías de equipos semiconductores su participación en el mercado e incrementan significativamente sus costos de apoyo.

La tecnología PatMax ofrece una localización sólida, precisa y rápida de patrones de wafer y bloques para su inspección, exploración, montaje, corte y prueba de wafer para equipos para ayudar a evitar estos problemas. PatMax utiliza algoritmos geométricos patentados de localización de patrones geométricos para localizar y alinear los diversos patrones de wafer y bloques. Alinea wafer y bloques con gran precisión y repetibilidad, garantizando el rendimiento confiable de los equipos durante todo el proceso de fabricación de semiconductores. Con Cognex, los OEM pueden optimizar el rendimiento general de sus equipos, mejorando la calidad y el rendimiento.

Para más información acerca de las soluciones de aplicaciones de Cognex:

Tenga acceso al soporte y entrenamiento para productos y más

ÚNETE A MYCOGNEX

¿Tiene alguna pregunta?

Los representantes de Cognex están disponibles en todo el mundo para respaldar sus necesidades de visión y de lectura de códigos de barras industriales.

Contáctenos