Identificación automática para trazabilidad de los “wafers”

A fin de maximizar la utilización de las herramientas y el rendimiento de la producción, la industria mundial de semiconductores altamente competitiva exige un control cada vez más riguroso de procesos complejos, no existe el margen de error. La necesidad de realizar el seguimiento de los “wafers” a lo largo de los procesos back-end jamás ha sido tan vital para la rentabilidad.

Los lectores de wafers In-Sight^® Serie 1740 ayudan a enfrentar este desafío mediante la identificación automática de los “wafers” con extrema confiabilidad a fin de minimizar la intervención humana y evitar los tiempos de inactividad de las herramientas. Ya sea que se instalen en equipos nuevos o se adapten a herramientas ya existentes, los lectores serie In-Sight 1740 pueden lograr que la trazabilidad de los “wafers” sea 100% posible.

Durante más de dos décadas, los sistemas de identificación de “wafers” de Cognex han establecido el estándar para la confiabilidad y la alta tasa de lectura; y la serie In-Sight 1740 no es la excepción. Los lectores de “wafers” serie In-Sight 1740 pueden ser pequeños pero tienen un gran rendimiento. Un único sistema autónomo y compacto proporciona todo lo necesario para lograr altas tasas de lectura sin comprometer la confiabilidad.

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Sistema de iluminación avanzado

Mediante 12 modos integrados de iluminación de campo brillante y campo oscuro, controlados por un software, los lectores serie In-Sight 1740 son capaces de crear una imagen virtual a partir de casi cualquier marca de identificación. Marcas súper suaves, revestimientos ultradelgados, sustratos de zafiro; el sistema de iluminación serie In-Sight 1740 está a la altura de estos desafíos y de muchos otros más. Además, a medida que se desarrollan nuevos revestimientos y procesos de “wafer”, los lectores serie In-Sight 1740 pueden ampliarse para superar los nuevos desafíos que presentan las imágenes con iluminación especializada generada por el puerto de iluminación auxiliar. 

Algoritmos probados de lectura

Aún la iluminación más efectiva requiere algoritmos de identificación avanzados para leer correctamente OCR, T7 Data Matrix y códigos de barra en “wafers” donde la creación de imagen resulta difícil. En el núcleo de la serie In-Sight 1740 se encuentran los algoritmos de lectura Cognex desarrollados en base a la experiencia que sólo proviene de haber instalado más de 31,000 sistemas de “wafers” de identificación. Estos algoritmos han demostrado ser los más sólidos y confiables en el mundo de las marcas de identificación que han sido degradadas por las juntas de los bordes, CMP, los patrones de grabado en troquel y otras condiciones.

SEMI T7

Filtros de mejoramiento de la imagen

Los efectos del procesamiento de “wafer” pueden afectar la calidad del marcado de identificación a tal punto que se resistan a la lectura, incluso mediante el sistema de iluminación y los algoritmos de software más avanzados. Los lectores serie In-Sight 1740 pueden superar estas degradaciones visuales mediante los filtros de mejoramiento automático de la imagen. En los casos más severos, los filtros pueden convertir las lecturas fallidas en lecturas exitosas al tiempo que se incrementa la confiabilidad y se suprime la necesidad de intervención humana.

Rendimiento de lectura más rápida

La serie In-Sight 1740 lee un 40 % más rápido que su predecesor de mayor venta, el de la serie In-Sight 1720. La potencia adicional también puede utilizarse para realizar un análisis de la imagen más intensivo por procesador que brinde resultados excepcionalmente confiables sin incrementar los tiempos de lectura totales.